Учебная работа № 78101. «Курсовая Вариант 15 Курсовая работа по управлению запасами

Учебная работа № 78101. «Курсовая Вариант 15 Курсовая работа по управлению запасами

Количество страниц учебной работы: 21
Содержание:
ВВЕДЕНИЕ 3
2. УПРАВЛЕНИЕ ЗАПАСАМИ 4
2.1. ВАРИАНТ РАСЧЕТА ПО МИНИМАЛЬНОМУ ЗНАЧЕНИЮ РАСХОДА ЗА ИНТЕРВАЛ 5
2.2. ВАРИАНТ РАСЧЕТА ПО МАКСИМАЛЬНОМУ ЗНАЧЕНИЮ РАСХОДА ЗА ИНТЕРВАЛ 8
2.3. ВАРИАНТ РАСЧЕТА ПО СРЕДНЕЙ ВЕЛИЧИНЕ РАСХОДА ЗА ИНТЕРВАЛ 11
2.4. ВАРИАНТ РАСЧЕТА ПО ОПТИМАЛЬНОМУ ЗАКАЗУ 13
2.5. ВАРИАНТ РАСЧЕТА С УЧЕТОМ ГАРАНТИЙНОГО И ПОДГОТОВИТЕЛЬНОГО ЗАПАСОВ 17
ЗАКЛЮЧЕНИЕ 19
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ 21

Стоимость данной учебной работы: 585 руб.

Форма заказа готовой работы
================================

Укажите Ваш e-mail (обязательно)! ПРОВЕРЯЙТЕ пожалуйста правильность написания своего адреса!

Укажите № работы и вариант

Соглашение * (обязательно) Федеральный закон ФЗ-152 от 07.02.2017 N 13-ФЗ
Я ознакомился с Пользовательским соглашением и даю согласие на обработку своих персональных данных.

Выдержка из подобной работы:

….

Метод ВИМС

….. 5

Оборудование ВИМС. 8

Принцип действия установок. 9

Установки не обеспечивающие анализа распределения
частиц по поверхности 10

Установки позволяющие получать сведения о
распределении 11

элемента по поверхности со сканирующим ионным
зондом

Установки с прямым изображением 11

Порог чувствительности 12

Анализ следов
элементов 14

Ионное
изображение 16

Требования к первичному ионному пучку 17

Масс-спектрометрический анализ нейтральных 18

распыленных частиц

Количественный анализ 19

Глубинные профили концентрации элементов 22

Приборные факторы влияющие на разрешение 23

по глубине при измерении профилей
концентрации

Влияние ионно-матричных эффектов на разрешение 25

по глубине при измерении профилей концентрации

Применения 26

Исследование поверхности 26

Глубинные профили
концентрации 27

Распределение
частиц по поверхности 27

микроанализ и
объемный анализ

Заключение 27

Список
литературы 29
Введение

Возможности получения сведений о составе внешнего атомного
слоя твердого тела значительно расширялись всвязи с разработкой и
усовершенствованием метода вторично-ионной масс-спектрометрии и других
методов. Большинство таких методов близки к тому чтобы анализировать саму
поверхность поскольку основная информация о составе материала поступает из его
приповерхностной области толщиной порядка 10А а чувствительность всех таких
методов достаточна для обнаружения малых долей моноатомного слоя большинства
элементов.

Взаимодействие быстрых ионов с твердым телом приводит к
выбиванию атомов и молекул материала как в нейтральном так и в заряженном
состоянии. На таком явлении сравнительного эффективного образования заряженных
частиц и на принципе высокочувствительных масс-спектрометрических
измерениях и основан метод ВИМС. Хотя у него »